陶瓷贴片耐磨弯头的性能主要取决于陶瓷贴片的性能参数,
1、体积密度 95%氧化铝陶瓷体积密度与原材料的选择、制瓷工艺有很大的关系。在国家标准GB/T5593-1999规定,要求95%氧化铝陶瓷的体积密度在3.60g/cm3以上。实际上,制瓷的成型方法不同,95%氧化铝陶瓷的密度差异较大,通常热压铸和注浆法成型时,密度为3.60-3.70 g/cm3间;等静压成型时,3.70 g/cm3;凝胶法成型可达3.73 g/cm3。
2、 气密性 95%氧化铝陶瓷用于微波器件、真空开关管等,要求真空气密性很高。在电子行业标准SJ/T11246中规定,封接件的漏气率QK≤1×10--11Pa·M3/S.实际上也就规定了陶瓷本身漏气率也要达到上述标准。
3、 化学稳定性 95%氧化铝陶瓷化学稳定性是表征其耐各种化学试剂浸蚀的能力。耐酸性试剂浸蚀的能力称为耐酸性,耐碱性试剂浸蚀的能力称为耐碱性。国家标准GB/T5593-1999规定,将试样放在1:9盐酸或10%氢氧化钠溶液中,溶液加热至100℃,保温1h。抗酸性要求Kh≤7mg/cm2,抗碱性要求Kn≤0.2mg/cm2。
4、 陶瓷显微结构 陶瓷的显微结构系指晶相(主晶相、次晶相)、玻璃相、气相、晶界的组成,含量,分布,形态,粒度分布,均匀度,缺陷,相间物质,畴结构等的相互组合关系。显微结构与制瓷工艺有着密切的关系,直接影响到陶瓷的性能,是提高陶瓷质量,改进工艺的一种研究方法。
五、95%氧化铝陶瓷-金属的封接性能
95%氧化铝陶瓷作为一类结构陶瓷,要与金属进行封接,组成一个部件。特别是用在微波器件和真空开发管上的95%氧化铝陶瓷通常把陶瓷-金属封接性能作为重要指标来考核。考核的内容:陶瓷-金属封接性能要求强度要高,同时要求气密性要好。在电子行业标准SJ/T11246《真空开关管用陶瓷管壳》中规定,平均封接强度,采用标准瓷封接时,σa≥90Mpa;采用三点法测试时,σa≥90Mpa。封接件的气密性,氦气漏气率Qk≤1×10-11Pam3/s
电性能
体积电阻率、直流击穿强度、介质损耗角正切值和介电常数。
1、 体积电阻率 绝缘材料的体积电阻率ρν是指试样体积电流方向的直流电场强度与该处电流密度之比值。ρν=EV/jv(Ωcm),式中,EV为直流电场强度,jv为电流密度。95%氧化铝陶瓷是一种优良的电子绝缘材料,体积电阻率很高,国家标准GB/T5593-1999中规定,100℃时,ρν≥1×1013Ωcm;300℃时,ρν≥1×1010Ωcm;500℃时,ρν≥1×108Ωcm。实际上,目前我国生产的95瓷的体积电阻率比上述规定要高1-2个数量级。测试体积电阻的仪器通常采用高阻计。
2、 直流击穿强度 电气绝缘材料直流击穿强度是指在外加直流电场作用下发生的变化,主要由于内部结构变化所引起的。当电场强度高达一定值后,就促进其内部结构进一步变化,发生绝缘击穿。国家标准GB/T5593-1999规定,95%氧化铝陶瓷是在直流情况下进行耐压试验,当在试样上施加直流电压,使试样发生击穿,击穿电压值与试样的平均厚度之比称为直流击穿强度,单位:KV/mm。国家标准GB/T5593-1999规定要大于18KV/mm。实际上我们一般可达到30-40KV/mm。
3、 介电常数 绝缘材料在交流电场下介质极化程度的一个参数,它是充满某种绝缘材料的电容器与以真空为介质时,同样电极尺寸的电容器的电容量的比值。它代表了材料的一种固有特性。国标规定测试频率为1MHz时,95%氧化铝陶瓷的介电常数9-10之间。
4、 介质损耗角正切值 介质损耗表示材料在交流电场作用下,发生极化或吸收现象,产生电能损失,通常在介质材料上有发热的现象。介质损耗的大小用介质损耗角的正切值来表示。国家标准GB/T5593-1999规定,频率为1MHz时,95%氧化铝陶瓷要求达到4×10-4。